形貌分析TEM现场/云现场

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仪器型号：JEM-2100plus

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申请用户	高校	下单项目	影响因子	期刊名称	奖励现金	申请时间
潘**	贵州大学	形貌分析TEM现场/云现场	18.5	Advanced Functional Materials	400元	2024-09-22
苏**	北京林业大学	形貌分析TEM现场/云现场	17.6	Nano Energy	400元	2024-02-23
邢**	济南大学	形貌分析TEM现场/云现场	12.2	Journal of Hazardous Materials	300元	2024-11-15
宋**	北京理工大学	形貌分析TEM现场/云现场	9.965	JOURNAL OF COLLOID AND INTERFACE SCIENCE	300元	2023-06-28
宋**	北京理工大学	形貌分析TEM现场/云现场	9.5	ACS Appl. Mater. Interfaces	300元	2024-02-21
夏**	河南理工大学	形貌分析TEM现场/云现场	9.4	Journal of Energy Storage	300元	2024-04-16

本台设备主要拍摄形貌和衍射（可拍到5nm标尺），加速电压200kv，点分辨率0.194nm，放大倍数x 2,000 – 1000,000，超高分辨UHR材料极靴，可以打衍射。

1. 粉体、液体可测试，薄膜或块状样品不能直接拍摄，请另行预约制样（如离子减薄、包埋切片、FIB等）

2. 样品的厚度不超过100nm，如果颗粒稍大一点，可适当研磨至100nm以下（可先拍SEM判定颗粒大小）；

3. 一般制样选微珊铜网即可，如果颗粒直径小于10nm用超薄碳膜制样；

4. 磁性样品不接受自己制样。